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臥式光彈系數(shù)測(cè)試儀(ANA6000P-H)是應(yīng)用偏振光干涉原理對(duì)應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)力測(cè)試的儀器,簡(jiǎn)稱光彈儀。應(yīng)用它可以通過(guò)模型在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行大型建筑構(gòu)件、水壩壩體、重型機(jī)械部件的應(yīng)力和應(yīng)力分布的測(cè)試,并可以在模型上直接看到被測(cè)件的全部應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。
立式光彈測(cè)試儀:光彈系數(shù)測(cè)試儀(ANA6000P-V)是應(yīng)用偏振光干涉原理對(duì)應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)力測(cè)試的儀器,簡(jiǎn)稱光彈儀。應(yīng)用它可以測(cè)試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應(yīng)力雙折射/殘余應(yīng)力,以圖像形式直觀觀察被測(cè)件的應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。
FF35 CT 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)非常適合檢查您的中小型產(chǎn)品:電子元件如SMD,導(dǎo)體封裝,材料探針(如金屬,塑料,CFRP),系統(tǒng),MEMS,MOEMS,療器械如空心,小金屬零件即注塑模具,電子設(shè)備,小鑄件。
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