當(dāng)前位置:首頁 >產(chǎn)品中心>無損檢測系統(tǒng)>光彈系數(shù)測試儀>ANA6000P-V立式光彈測試儀
簡要描述:立式光彈測試儀:光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應(yīng)用偏振光干涉原理對應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實驗應(yīng)力測試的儀器,簡稱光彈儀。應(yīng)用它可以測試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應(yīng)力雙折射/殘余應(yīng)力,以圖像形式直觀觀察被測件的應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。
產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
Related Articles詳細(xì)介紹
產(chǎn)品簡介:
產(chǎn)品名稱:立式光彈測試儀
型 號:ANA6000P-V
應(yīng) 用:測試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應(yīng)力雙折射/殘余應(yīng)力,以圖像形式直觀觀察被測件的應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。
安賽斯立式光彈測試儀:光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應(yīng)用偏振光干涉原理對應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實驗應(yīng)力測試的儀器,簡稱光彈儀。應(yīng)用它可以測試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應(yīng)力雙折射/殘余應(yīng)力,以圖像形式直觀觀察被測件的應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。
立式光彈測試儀主要技術(shù)參數(shù):
1. 測試面積(即光源尺寸)
標(biāo)準(zhǔn)尺寸為300 mm×300mm,其它尺寸可以定制,最大600mm×500mm;
2. 相機(jī)參數(shù)
2248*2048原始分辨率,輸出4幅1224*1024的偏振圖像。幀率36或79。
3. 應(yīng)力雙折射量程
基本型: 量程為工作波長的1/4(以紅光為例,量程即157.5nm);
增強(qiáng)型:2296nm。需要采用藍(lán)、綠兩種顏色的光源進(jìn)行測試,并進(jìn)行相位解包裹處理;
? 3. 測試分辨率與精度
以 0.8mm 厚的鈣鈉玻璃為例:應(yīng)力測試的分辨率為 0.2MPa:應(yīng)力測試的精度:1.0MPa。
應(yīng)力雙折射的測試分辨率:0.1nm, 精度:1.0nm;
產(chǎn)品特色:
與傳統(tǒng)/常規(guī)的光彈儀相比,本立式光彈測試儀具有如下特點:
1. 結(jié)構(gòu)簡單
主要部件包括:偏振光源、傾斜平臺(用于晶體試件測試)、濾光片轉(zhuǎn)輪、像素偏振相機(jī)、高配筆記本電腦(內(nèi)存 16G 以上)及處理軟件,不含任何可旋轉(zhuǎn)的光學(xué)偏振器件。
2. 操作簡單,可以實現(xiàn)快速甚至實時測試
只需一次拍照即可同時獲取試件的相位差場和主應(yīng)力方向場,避免了傳統(tǒng)方法在定量測試時的復(fù)雜操作,且在平面應(yīng)力的條件下可以分離出各應(yīng)力分量;
3. 靈敏度高且不受環(huán)境光的干擾
測試靈敏度是傳統(tǒng)光彈法/設(shè)備的兩倍(物理靈敏度),且無論相位差多小,都可以用最大的灰度梯度圖像表示(顯示靈敏度高);由于采用不同偏振圖像之間的相減運(yùn)算,使得測試幾乎不受環(huán)境光的干擾。
4. 多種測試波長可選并快速切換
切換方式包括RGB 三色 LED 光源(中心波長分別為:625nm、525nm 和 465nm)的切換以白光光源下不同的窄帶濾光片的輪換。
5. 可以根據(jù)客戶要求定制產(chǎn)品
在某些特殊情況下,客戶需要用自己的相機(jī)和光源,我們可以根據(jù)需要對產(chǎn)品進(jìn)行定制,滿足客戶的需要。
安賽斯光彈儀工作原理
設(shè):圓盤試件(直徑D, 厚度d)受對徑壓縮載荷 F 的作用,試件中心點O 的主應(yīng)力分別是:
根據(jù)應(yīng)力-光學(xué)定律,應(yīng)力雙折射材料的主應(yīng)力差與相位差(?)的關(guān)系如下:
其中C 為待求的光彈系數(shù),λ 為測試光的波長。
將(1)(2)關(guān)聯(lián)起來,有:
通過光彈實驗確定圓形試件中心點的位相差?,即可得到光彈系數(shù)。
實驗示意及應(yīng)用范圍:
立式光彈儀 :利用應(yīng)力雙折射性質(zhì),在工程上可以制成各種機(jī)械零件的透明塑料模型,然后模擬零件的受力情況,觀察、分析偏振光干涉的色彩和條紋分布,從而判斷零件內(nèi)部的應(yīng)力分布。
應(yīng)力雙折射信息
圓盤徑向受壓實驗:
U型塊壓彎組合實驗:
光彈性方法直觀,能直接顯示應(yīng)力集中區(qū)域,并準(zhǔn)確給出應(yīng)力集中部分的量值;它不但可以得到便捷應(yīng)力而且能夠求的結(jié)構(gòu)的內(nèi)部應(yīng)力。特別是這一方法不受形狀和載荷的限制,可以對工程復(fù)雜結(jié)構(gòu)進(jìn)行應(yīng)力分析。
獲取更多立式光彈儀產(chǎn)品咨詢,請聯(lián)系安賽斯(ANALYSIS)工作人員,400 8816 976
產(chǎn)品咨詢
郵箱:info@analysis-tech.com
地址:北京市海淀區(qū)建材城中路3號樓程遠(yuǎn)大廈B座606
官方微信
公司官網(wǎng)