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  • 三維云紋干涉儀

    三維云紋干涉儀:該設備用于測量試件在機械或熱載荷作用下的三維熱機械變形場(面內(nèi)的U,V場和離面的W場)。在電子封裝領域,該設備是重要的失效分析手段。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    產(chǎn)地:香港特別行政區(qū)
  • ANA6000P-H臥式光彈系數(shù)測試儀

    臥式光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-H)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構(gòu)件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。應用它可以通過模型在實驗室內(nèi)進行大型建筑構(gòu)件、水壩壩體、重型機械部件的應力和應力分布的測試,并可以在模型上直接看到被測件的全部應力分布和應力集中情況。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    產(chǎn)地:北京市
  • ANA6000P-V立式光彈測試儀

    立式光彈測試儀:光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光干涉原理對應力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學構(gòu)件模型進行實驗應力測試的儀器,簡稱光彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應力雙折射/殘余應力,以圖像形式直觀觀察被測件的應力分布和應力集中情況。

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    產(chǎn)地:北京市
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